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介電常數(shù)介質損耗測試儀 介電常數(shù)及介質損耗測試儀的創(chuàng)新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確，測量效率更高。

LJD-B型介電常數(shù)及介質損耗測試儀是我公司研制生產的產品，自該產品實現(xiàn)銷售后，我公司工程師就一直持續(xù)不斷對產品改進升級；特別是在軟件上不斷地加以完善，改進了早期產品存在的不足之處，提高了測試精度，并增加新的功能。

介電常數(shù)介質損耗測定儀 　LJD-B/C主機能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介電常數(shù)和介質損耗因數(shù)，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關、學校、工廠等單位。

介電常數(shù)及介質損耗測試儀特點： 電橋顯示屏幕為彩色TFT顯示，能直接顯示被試品電容量Cx、介損tgδ、介電常數(shù)εr、試驗電壓Upk/√2、試驗頻率Hz、電極面積A、材料厚度h、電感量Lx、品質因數(shù)Qx、測試電源頻率fx、視在功率S、有效功率P、無功功率Q、電線電纜的介損介電常數(shù)（管狀材料）、測量系統(tǒng)接線圖等。

介電常數(shù)介質損耗儀 器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。使用LJD-A/B或LJD-C數(shù)字Q表具有自動計算介電常數(shù)（ε）和介質損耗（tanδ）。

QS37a型絕緣紙介電常數(shù)介質損耗測定儀是本公司推出的新一代絕緣紙介電常數(shù)介質損耗測試儀,主要用于測量高壓工業(yè)絕緣介質損耗角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經典線路,主要可以測量各種絕緣材料在工頻高壓下的介質損耗（tgδ）和電容量（C）及介電常數(shù)(ε)。